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DC-2000C超聲波測(cè)厚儀詳細(xì)介紹說(shuō)明討論

  • 發(fā)布日期:2017-11-16      瀏覽次數(shù):2102
    •      DC-2000C超聲波測(cè)厚儀是一種根據(jù)聲波來(lái)測(cè)量物體厚度的儀器,它是利用聲波發(fā)射,當(dāng)聲波碰到特體時(shí)返射回探頭,然后再計(jì)算時(shí)其時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。
          DC-2000C超聲波測(cè)厚儀是采用的高性能、低功耗微處理器技術(shù),基于超聲波測(cè)量原理,可以測(cè)量金屬及其它多種材料的厚度,并可以對(duì)材料的聲速進(jìn)行測(cè)量??梢詫?duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行厚度測(cè)量,監(jiān)測(cè)它們?cè)谑褂眠^(guò)程中受腐蝕后的減薄程度,也可以對(duì)各種板材和各種加工零件作測(cè)量按超聲波脈沖反射原理設(shè)計(jì)的測(cè)厚儀可對(duì)各種板材和各種加工零件作測(cè)量,也可以對(duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測(cè),監(jiān)測(cè)它們?cè)谑褂眠^(guò)程中受腐蝕后的減薄程度。
          DC-2000C超聲波測(cè)厚儀影響測(cè)量精度的原因
          1、試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大。
          2、基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān)。
          3、任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,只有大于這個(gè)厚度,測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響。
          4、渦流測(cè)厚儀對(duì)式樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng),即對(duì)靠近式樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的。
          5、覆蓋層厚度大于25μm時(shí),其誤差與覆蓋層厚度近似成正比。
          6、渦流測(cè)厚儀對(duì)妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感.因此測(cè)量前應(yīng)清除測(cè)頭和覆蓋層表面的污物;測(cè)量時(shí)應(yīng)使測(cè)頭與測(cè)試表面保持恒壓垂直接觸。
          7、基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量的精度,粗糙度增大,影響增大。
          DC-2000C超聲波測(cè)厚儀顧名思義是利用超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行被檢測(cè)物體厚度測(cè)量的,使用超聲波測(cè)厚儀要求被測(cè)量物體內(nèi)部材料均勻,超聲波傳播不會(huì)受到材料的影響為益,可采用此種儀器測(cè)量測(cè)量。當(dāng)儀器探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭,通過(guò)測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。根據(jù)此種原理設(shè)計(jì)的測(cè)厚儀可對(duì)各種板材和各種加工零件作測(cè)量。也可以應(yīng)用于對(duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測(cè),監(jiān)測(cè)它們?cè)谑褂眠^(guò)程中受腐蝕后的減薄程度。超聲波測(cè)厚儀如今已經(jīng)被廣泛的應(yīng)用于冶金、石油、化工、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。
          DC-2000C超聲波測(cè)厚儀可以滿足您對(duì)超聲波厚度測(cè)量的一切所需。機(jī)器僅重225克,外形美觀小巧,只有幾個(gè)按鍵,專(zhuān)為單手操作而設(shè)計(jì)。其中  DC-2000C超聲波測(cè)厚儀能幫助你完成大量的測(cè)厚任務(wù),尤其是磨損部件剩余壁厚的測(cè)量。

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